新品|ZEISS scatterControl优化图像质量的硬件解决方案

Release time: 2024-02-20


ZEISS scatterControl模块可显著改善图像质量,并将CT扫描的散射伪影降至最低。上述优化有助于合适零件的后续数据处理和评估步骤,从而让表面测定和缺陷分析更为精确。该产品适用于高容量、高密度零件,如增材制造的金属零件和铝铸件(甚至带有钢嵌体),以及其他含有高密度材料的装配件。

该模块可用于ZEISS METROTOM 1500 225kV G3,也可作为改造解决方案或购买新系统的一部分。即刻起,使用ZEISS scatterControl升级您的系统吧。您将获得良好的图像质量,从而更便捷地进行数据评估。

优势

ZEISS scatterControl的优势有哪些?

图像质量更佳、缺陷检测性能更优

ZEISS scatterControl通过减少散射辐射造成的伪影,显著改善了CT图像质量。不同组件之间的对比度提升,缺陷检测步骤也得以简化:可对既往几乎无法评估的零件区域进行评估。

优化表面测定

受益于ZEISS scatterControl,不仅缺陷检测步骤有所简化,表面测定的总体质量也有所提升。这对于具有挑战性的零件的计量应用而言是巨大优势,如果不对其伪影进行校正,则会影响表面测定过程。

配备VAST模式,实现快速扫描

ZEISS scatterControl可与“Stop and Go(走停)”和VAST扫描模式配合使用。ZEISS scatterControl解决方案为锥束CT提供良好的图像质量,可与扇束CT的图像质量相媲美,但扫描时间可提高1000倍。

使用方便

ZEISS scatterControl属于一键式解决方案。该模块可与METROTOM OS的其他有用功能无缝衔接,如VHD(虚拟水平探测器扩展)、AMMAR(高级混合材料伪影减少)或VolumeMerge,并完全集成到软件中。

图像质量

ZEISS scatterControl的缺陷分析性能更优

ZEISS scatterControl可显著改善各种零件和行业的CT扫描图像质量。其作用机制十分明确,该解决方案不仅可有效去除伪影,还能对模块进行相对于工件的定位。基于这些优势,ZEISS scatterControl成为所在领域的理想之选。通过以下内容了解如何使用该模块进行缺陷检测和分析。

减少伪影,改善CT图像质量

ZEISS scatterControl与其他产品相比具有明显差异,其使用滑块元素来比较使用和不使用scatterControl模块可实现的X射线图像质量。因此,改进后的图像对比度更高且伪影更少,从而使细节呈现更为清晰。

基于模块定位

鉴于模块的工作原理,ZEISS scatterControl与同类产品相比具有较高的质量:其置于管线和探测器之间。可将较小物体(如密集型增材制造零件)放置在模块前方,将较大物体放置在后方。两种方式皆可发挥作用。此外,内置的物理碰撞传感器和精密的碰撞预测软件可有效防止碰撞。

适用于各种零件和行业

铸造:大型铝制或镁制零件(甚至带有钢嵌体)

汽车:带有钢嵌体的铸件、电力电子器件

增材制造:密集型金属印制零件

改进三维检测

改进体积数据让评估更加便捷。确定并生成三维表面,且无干扰性伪影。许多伪影通常由散射辐射造成,在三维表面产生伪面,进而妨碍精确测量。

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